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日本Sankei一體彈簧式接觸探頭精密測量耐用 CP/CPS/NCP系列 CP系列（通用產(chǎn)品）（CP） 這是一種一體式制造的外部彈簧式接觸探頭。由于可以保持較低的電阻率，因此適合精密測量。 短行程型（CPS） 這是一種一體式制造的外部彈簧式接觸探頭。由于可以保持較低的電阻率，因此適合精密測量。

日本Kiyohara干涉儀檢查儀便攜式可現(xiàn)場檢測 KNC-1 這是一款緊湊的牛頓檢查儀，任何人都可以在制造現(xiàn)場輕松檢查小型光學(xué)元件的表面。 是一款非常適合現(xiàn)場使用、性價比高、可隨身攜帶的測量工具。 可選擇連接干涉條紋分析裝置。

日本進(jìn)口canare高功率kW級連接器用于光纖等 TYPE1/TYPE2/ECF/QBH型 采用異徑熔接技術(shù)、玻璃焊接技術(shù)、包層模條技術(shù)，打造出無需使用粘合劑即可支持kW級的大功率連接器！ 有四種類型的類型可供選擇，以匹配輸出電平。

日本理研rikenkeiki測量裝置有機電子材料用FAC-2介紹： 專用于光刻樣品的開爾文探針 輕松設(shè)置樣品，無需微調(diào)電極和樣品之間的距離 可在大氣中測量半導(dǎo)體樣品的費米能級 由于測量時間短，因此非常適合測量隨時間變化的情況，例如成膜或表面處理后金屬表面的變化

日本rikenkeiki光學(xué)測量儀用于半導(dǎo)體材料等 AC-5/AC-3 能夠使用平板開放式計數(shù)器對高達(dá) 4000 cps 的光電子進(jìn)行計數(shù) 能夠安裝尺寸達(dá) 180 x 180 毫米的大型樣品 任何位置都可以通過點測量進(jìn)行測量。 使用樣品更換器 (*) 可自動測量多達(dá) 25 個板狀或粉末狀樣品。 通過使用Xe（氙）燈（*），可以高靈敏度地測量不易產(chǎn)生電子的

日本Riken Keiki高輸出光學(xué)系統(tǒng)高精度測量 AC-2S Pro α/AC-2S Pro β 配備超過2μW的高光輸出光學(xué)系統(tǒng) 配備可測量2eV以上的低能量照射光學(xué)系統(tǒng) 高溫測量可達(dá)100℃ 膜厚測量 以 0.01eV 步長進(jìn)行精確測量 配備高要求的多點測量和重復(fù)測量功能。 讀取AC-2、3、5數(shù)據(jù)后即可進(jìn)行分析

日本keycom磁性材料磁導(dǎo)率測量系統(tǒng)范圍寬廣 PER01 1. 無縫和廣泛的帶寬覆蓋 KEYCOM可以提供測量系統(tǒng)，帶寬無縫覆蓋從100kHz到30GHz。 2. 可測量的價值 此系統(tǒng)可在寬頻帶內(nèi)測量磁性材料的復(fù)合磁導(dǎo)率μr'-jμr“（其中，我們可提供20～30GHz的測量服務(wù)），半寬度ΔH，鐵磁共振松弛系數(shù)α（100MHz～10GHz）。

日本meikikou通用型液壓式剪式舉升機升降機 Hyper系列 Hyper 系列是我們所有剪式高空作業(yè)平臺的基本型號。采用板式受電弓臂，價格便宜，交貨期短，可供客戶從1690個標(biāo)準(zhǔn)型號中選擇適合自己需求的型號。通用系列，可用于廣泛的應(yīng)用。